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Low-Power High-Resolutio
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所在地：Sparks, Nevada, 美國
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- Publication Date
- 2010-11-05
- Pages
- 293
- ISBN
- 9789048197248
- Publication Year
- 2010
- Series
- Analog Circuits and Signal Processing Ser.
- Type
- Textbook
- Format
- Hardcover
- Language
- English
- Publication Name
- Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters : Design, Test and Calibration
- Item Length
- 9.3in
- Publisher
- Springer Netherlands
- Item Width
- 6.1in
- Item Weight
- 48.3 Oz
- Number of Pages
- Xx, 293 Pages
關於產品
Product Information
As the demand rises for low-power, low-voltage A/D converters, so do the quality-control issues in these devices, whose nano-level variables are difficult to control. This work looks at improving power efficiency and enhancing testing and debugging techniques.
Product Identifiers
Publisher
Springer Netherlands
ISBN-10
9048197244
ISBN-13
9789048197248
eBay Product ID (ePID)
92440802
Product Key Features
Publication Name
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters : Design, Test and Calibration
Format
Hardcover
Language
English
Publication Year
2010
Series
Analog Circuits and Signal Processing Ser.
Type
Textbook
Number of Pages
Xx, 293 Pages
Dimensions
Item Length
9.3in
Item Width
6.1in
Item Weight
48.3 Oz
Additional Product Features
Number of Volumes
1 Vol.
Lc Classification Number
Tk7800-8360
Table of Content
Forword. Abbrevations. Symbols. 1. Introduction. 1.1. A/D Conversion Systems. 1.2. Remarks on Curent Design and Debugging Practice. 1.3. Motivation. 1.4. Organization. 2. Analog to Digital Conversion. 2.1. High-Speed High-Resolution A/D Converter Architectural Choices. 2.2. Notes on Low Voltage A/D Converter Design. 2.3. A/D Converter Building Blocks. 2.4. A/D Converters: Summary. 3. Design of Multi-Step Analog to Digital Converters. 3.1. Multi-Step A/D Converter Architecture. 3.2. Deisgn Considerations for Non-Ideal Multi-Step A/D Converter. 3.3. Time-Interleaved Front-End Sample-and-Hold Circuit. 3.4. Multi-Step A/D Converter Stage Design. 3.5. Inter-Stage Design and Calibration. 3.6. Experimental Results. 3.7. Conclusion. 4. Multi-Step Analog to Digital Converter Testing. 4.1. Analog ATPG for Quasi-Static Structural Test. 4.2. Design for Testability Concept. 4.3. On-Chip Stimulus Generation for BIST Applications. 4.4. Remarks on Built-In Self-Test Concepts. 4.5. Stochastic Analysis of Deep-Submicron CMOS Process. 4.5. Conclusion. 5. Multi-Step Analog to Digital Converter Debugging. 5.1. Concept of Sensor Networks. 5.2. Estimation of Die-Level Process Variations. 5.3. Debugging of Multi-Step A/D Converter Stages. 5.4. DfT for Full Accessability of Multi-Step Converters. 5.5. Debugging of Time-Interleaved Systems. 5.6. Foreground Calibration. 5.7. Experimental Results. 5.8. Conclusion. 6. Conclusions and Recommendations. 6.1. Summary of Results. 6.3. Recommendations and Future Research. Appendix. References. Index.
Copyright Date
2011
Target Audience
Scholarly & Professional
Topic
Cad-Cam, Electronics / Circuits / General, Electronics / Digital, Electronics / General
Illustrated
Yes
Genre
Computers, Technology & Engineering
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物品所在地：
Sparks, Nevada, 美國
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