第 1/1 張圖片
Elektronenmikr
狀況：
庫存 3 件
運費：
所在地：Fairfield, Ohio, 美國
送達日期：
估計於 6月29日, 六至 7月11日, 四之間送達 運送地點 43230
退貨：
保障：
請參閱物品說明或聯絡賣家以取得詳細資料。閱覽全部詳情查看保障詳情
（不符合「eBay 買家保障方案」資格）
安心購物
物品細節
- 物品狀況
- 全新: 全新，未閱讀過和使用過的書籍，狀況完好，不存在缺頁或內頁受損。 查看所有物品狀況定義會在新視窗或分頁中開啟
- ISBN-13
- 9783642490231
- Book Title
- Elektronenmikroskopische Methodik
- ISBN
- 9783642490231
- Subject Area
- Technology & Engineering, Science
- Publication Name
- Elektronenmikroskopische Methodik
- Item Length
- 9.6 in
- Publisher
- Springer Berlin / Heidelberg
- Subject
- General, Physics / General
- Publication Year
- 2012
- Type
- Textbook
- Format
- Trade Paperback
- Language
- German
- Item Height
- 0.2 in
- Item Width
- 6.7 in
- Item Weight
- 15.6 Oz
- Number of Pages
- VIII, 244 Pages
關於產品
Product Information
In dlesem Buch haben Erfahrungen ihren Niederschlag gefunden, die ich wiih- rend 16jiihriger Tiitigkeit auf dem Gebiet der angewandten Elektronenmikroskopie sammeln konnte. Dabei beziehen sich diese Erfahrungen nicht nur auf die Durch- fUhrung elektronenmikroskopischer Priiparationen und Anfertigen von Aufnah- men am Elektronenmikroskop, sondern sie schlieBen auch den diesen Tiitigkeiten vorangehenden und nachfolgenden Denk-ProzeB mit ein: Das Erkennen echter Aufgaben fUr die Elektronenmikroskopie, die Interpretation der elektronen- mikroskopischen Aufnahmen und die Kombination der elektronenmikroskopi- schen M6glichkeiten mit anderen MeBmethoden. Diesen ganzen Komplex habe ich in Ermangelung eines besseren oder eindeutigeren Ausdrucks als "elektronen- mikroskopische Methodik" bezeichnet. Bei der Notwendigkeit, wiihrend der Tiitigkeit im Battelle-Institut stets wieder neue Mitarbeiter in das Arbeitsgebiet Elektronenmikroskopie einzufUhren und bei der Aufgabe, Ergebnisse den Institutskollegen oder institutsfremden Auf trag- gebern zu erkliiren, hatte ich laufend Gelegenheit zu erkennen, wo die begrifflichen Schwierigkeiten auch fUr physikalisch Gebildete innerhalb des Komplexes der "elektronenmikroskopischen Methodik" liegen: Sie liegen in der N otwendigkeit, eine elektronenmikroskopische Aufnahme nicht als "Abbildung" eines Objektes, sondern als physikalisches MeBergebnis aufzufassen, wobei ein Hauptproblem darin liegt, daB sich das MeBergebnis fast nie in einfache Zahlenwerte zusammen- lassen liiBt, wie Zeigerausschliige an Voltmeter oder Amperemeter. Kein Maschinen- ingenieur, Chemiker oder Metallkundler wird sich ohne besondere Einweisung oder Erfahrung an die Auswertung einer R6ntgeneinkristallaufnahme heranwagen, auch wenn er vielleicht aufgrund seiner Ausbildung dazu in der Lage sein mtiBte. Aber sowie ein "Bild" vorliegt, werden die ktihnsten Schliisse daraus gezogen.
Product Identifiers
Publisher
Springer Berlin / Heidelberg
ISBN-10
3642490239
ISBN-13
9783642490231
eBay Product ID (ePID)
144049169
Product Key Features
Publication Name
Elektronenmikroskopische Methodik
Format
Trade Paperback
Language
German
Subject
General, Physics / General
Publication Year
2012
Type
Textbook
Subject Area
Technology & Engineering, Science
Number of Pages
VIII, 244 Pages
Dimensions
Item Length
9.6 in
Item Height
0.2 in
Item Width
6.7 in
Item Weight
15.6 Oz
Additional Product Features
Number of Volumes
1 Vol.
Lc Classification Number
T1-995
Table of Content
1. Elektronenstrahlen.- 2. Einführung in die Theorie des Mikroskopes.- 2.1. Wechselwirkung zwischen Strahlung und Materie.- 2.2. Die Bildentstehung im Durchstrahlungsmikroskop.- 3. Beugung am Raumgitter.- 3.1. Geometrische Theorie.- 3.1.1. Der Amplitudenfaktor.- 3.1.2. Das reziproke Gitter.- 3.1.3. Die Braggsche Gleichung.- 3.2. Anwendung der geometrischen Theorie auf Röntgen- und Elektronenstrahlen.- 3.2.1. Röntgenstrahlen.- 3.2.2. Beugung von Elektronenstrahlen.- 3.2.3. Beugung an dünnen Kristallen.- 3.3. Intensität der Beugungsreflexe.- 3.3.1. Streuvermögen der Atome.- 3.3.2. Strukturfaktor.- 3.3.3. Flächenzahl.- 3.4. Aufnahmeverfahren.- 3.4.1. Vorbemerkungen.- 3.4.2. Die verschiedenen Strahlengänge.- 3.5. Auswertung von Beugungsaufnahmen.- 3.5.1. Polykristalline Substanzen (Pulveraufnahmen).- 3.5.2. Unterschiede zu Röntgenfeinstrukturaufnahmen bei Pulveraufnahmen.- 3.5.3. Der Korngrößeneinfluß.- 3.5.4. Einkristalluntersuchung.- 3.5.5. Indizierung von Einkristall-Beugungsaufnahmen.- 3.6. Oberflächenbeugung.- 4. Beugungskontraste.- 4.1. Allgemeines.- 4.2. Interferenzschlieren oder Extinktionslinien.- 4.2.1. Dunkelfeldabbildungen.- 4.3. Streifen gleicher Neigung und Dicke.- 4.4. Gitterfehler.- 4.5. Moiré-Muster.- 4.6. Ausblick auf die dynamische Theorie.- 5. Auflösungsgrenze, Gesichtsfeld und Schärfentiefe.- 5.1. Die Auflösungsgrenze.- 5.2. Das Gesichtsfeld.- 5.3. Die Schärfentiefe.- 6. Abdruckverfahren.- 6.1. Der Abdruck als Abbildung.- 6.2. Kontrastverhältnisse.- 6.3. Schrägbedampfung (Beschattung).- 6.4. Herstellung der wichtigsten Abdrucke.- 6.4.1. Einfach-Abdrucke.- 6.4.2. Doppel- und Mehrfach-Abdrucke.- 6.5. Auflösungsgrenze von Abdruckpräparaten.- 6.6. Anwendungsbeispiele.- 6.7. Zielpräparationen.- 6.8. Dekorationsverfahren.- 7. Zeitauflösung.- 8. Kombination von Beobachtungsverfahren.- 8.1. Grundsätzliches.- 8.2. Beispiele.- 9. Korngrößen und Korngrößenverteilungen.- 9.1. Mikroskopische Korngrößenanalysen.- 9.1.1. Lichtmikroskopie.- 9.1.2. Elektronenmikroskopie.- 9.2. Einfluß des Präparationsverfahrens.- 9.2.1. Übersicht über die wichtigsten Präparationsverfahren.- 9.3. Darstellung der Ergebnisse und Fehlerbetrachtung.- 9.4. Das Tomatensalat-Problem.- 9.5. Nichtmikroskopische Verfahren zur Korngrößenbestimmung.- 10. Artefakte und Strahlschäden.- 10.1. Artefakte.- 10.1.1. Verunreinigung.- 10.1.2. Verzerrungen.- 10.2. Strahlschäden.- Literatur.
Copyright Date
1969
Target Audience
Scholarly & Professional
Dewey Decimal
578/.15
Illustrated
Yes
賣家提供的物品說明
運費與處理費
物品所在地：
Fairfield, Ohio, 美國
運送地點
不丹, 中國, 中國台灣, 中國澳門, 中國香港, 中非共和國, 丹麥, 乍德, 也門, 亞塞拜疆共和國, 亞美尼亞, 以色列, 伊拉克, 伯利茲, 佛得角群島, 保加利亞, 克羅地亞共和國, 全球, 冰島, 列支敦士登, 利比利亞, 剛果共和國, 剛果民主共和國, 加拿大, 加納, 加蓬共和國, 匈牙利, 南非, 南韓, 博茨瓦納, 卡塔爾, 印尼, 印度, 危地馬拉, 厄瓜多爾, 厄立特里亞, 吉布提, 吉爾吉斯, 哈薩克, 哥倫比亞, 哥斯達黎加, 喀麥隆, 圖瓦盧, 土庫斯安德凱科斯群島, 土庫曼, 土耳其, 圭亞那, 坦桑尼亞, 埃及, 埃塞俄比亞, 基里巴斯, 塔吉克, 塞內加爾, 塞拉利昂, 塞浦路斯, 塞爾維亞, 塞舌爾, 墨西哥, 多哥, 多明尼加, 多明尼加共和國, 奧地利, 孟加拉, 安哥拉, 安圭拉島, 安提瓜和巴布達, 安道爾, 寮國, 尼加拉瓜, 尼日利亞, 尼日爾, 尼泊爾, 巴哈馬, 巴基斯坦, 巴拉圭, 巴林, 巴西, 布基納法索, 布隆迪, 希臘, 幾內亞, 幾內亞比索, 庫克群島, 德國, 意大利, 愛沙尼亞, 愛爾蘭, 所羅門群島, 拉脫維亞, 挪威, 捷克共和國, 摩洛哥, 摩爾多瓦, 摩納哥, 斐濟, 斯威士蘭, 斯洛伐克, 斯洛文尼亞, 斯瓦爾巴群島和揚馬延島, 斯里蘭卡, 新加坡, 日本, 智利, 柬埔寨, 格恩西島, 格陵蘭, 格雷納達, 格魯吉亞, 梵蒂岡, 比利時, 毛里求斯, 汶萊, 沙特阿拉伯, 法國, 波斯尼亞和黑塞哥維那, 波蘭, 泰國, 津巴布韋, 洪都拉斯, 海地, 湯加, 澤西島, 澳洲, 烏干達, 烏拉圭, 烏茲別克, 牙買加, 特里尼達和多巴哥, 玻利維亞, 瑙魯, 瑞典, 瑞士, 瓦利斯和富圖納群島, 瓦努阿圖, 甘比亞, 百慕達群島, 盧旺達, 盧森堡, 直布羅陀, 福克蘭群島（馬爾維納斯）, 科威特, 科特迪瓦（象牙海岸）, 秘魯, 突尼斯, 立陶宛, 約旦, 納米比亞, 紐埃, 紐西蘭, 索馬里, 羅馬尼亞, 聖基茨-尼維斯, 聖文森和格瑞那丁, 聖皮耶與密克隆群島, 聖盧西亞, 聖赫倫那島, 聖馬力諾, 肯亞, 芬蘭, 英國, 英屬維爾京群島, 茅利塔尼亞, 荷屬安地列斯群島, 荷蘭, 莫桑比克, 菲律賓, 萊索托, 葛摩, 葡萄牙, 蒙古, 蒙特色拉特島, 薩爾瓦多, 蘇里南, 西撒哈拉, 西班牙, 貝寧, 贊比亞, 赤道幾內亞, 越南, 開曼群島, 阿富汗, 阿拉伯聯合酋長國, 阿曼, 阿根廷, 阿爾及利亞, 阿爾巴尼亞, 阿魯巴, 馬來西亞, 馬其頓, 馬拉維, 馬爾代夫, 馬約特島, 馬耳他, 馬達加斯加, 馬里, 黎巴嫩, 黑山
排除：
APO/FPO, 俄羅斯聯邦, 利比亞, 委內瑞拉, 巴布亞新畿內亞, 巴拿馬, 巴貝多, 新喀里多尼亞, 法屬圭亞那, 法屬玻里尼西亞, 烏克蘭, 瓜德羅普島, 留尼汪島, 白俄羅斯, 美國領地, 西薩摩亞, 阿拉斯加／夏威夷, 馬提尼克島
| 運費與處理費 | 每加一件物品 | 運送地點 | 運送方式 | 運送*查看送達備註 |
|---|---|---|---|---|
| 免運費 | 免費 | 美國 | Economy Shipping | 估計於 6月29日, 六至 7月11日, 四之間送達 運送地點 43230 |
| 處理時間 |
|---|
| 通常會在收到所有款項後的 10 個工作日內發貨。 |
| 稅項 |
|---|
| 結賬時相關稅項可能適用。 進一步了解進一步了解為 eBay 購物繳稅。 |
物品編號 386666102071 的銷售稅
物品編號 386666102071 的銷售稅
賣家會對寄往以下各州的物品收取銷售稅：
| 州／省 | 銷售稅稅率 |
|---|
退貨政策
| 收到物品後聯絡賣家的期限： | 退款方式 |
|---|---|
| 30 日 | 退款 |
買家負責支付退貨運費。
賣家信用評價 （1,024,888）
9***a (1128)- 買家留下的信用評價。
過去 1 個月
購買已獲認證
Great condition! Thanks!
o***l (677)- 買家留下的信用評價。
過去 1 個月
購買已獲認證
Super fast shipper
e***r (3)- 買家留下的信用評價。
過去 1 個月
購買已獲認證
Muy buen libro en versión español.