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Algorithms for Synthesis and Testing of Asynchronous Circuits by Luciano Lavagno
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- ISBN-13
- 9780792393641
- Book Title
- Algorithms for Synthesis and Testing of Asynchronous Circuits
- ISBN
- 9780792393641
- Series
- The Springer International Series in Engineering and Computer Science Ser.
- Publication Year
- 1993
- Type
- Textbook
- Format
- Hardcover
- Language
- English
- Publication Name
- Algorithms for Synthesis and Testing of Asynchronous Circuits
- Item Length
- 9.3in
- Publisher
- Springer
- Item Width
- 6.1in
- Item Weight
- 53.6 Oz
- Number of Pages
- Xix, 339 Pages
關於產品
Product Information
Since the second half of the 1980s asynchronous circuits have been the subject of a great deal of research following a period of relative oblivion. The lack of interest in asynchronous techniques was motivated by the progressive shift towards synchronous design techniques that had much more structure and were much easier to verify and synthesize. System design requirements made it impossible to eliminate totally the use of asynchronous circuits. Given the objective difficulty encountered by designers, the asynchronous components of electronic systems such as interfaces became a serious bottleneck in the design process. The use of new models and some theoretical breakthroughs made it possible to develop asynchronous design techniques that were reliable and effective. This book describes a variety of mathematical models and of algorithms that form the backbone and the body of a new design methodology for asyn- chronous design. The book is intended for asynchronous hardware designers, for computer-aided tool experts, and for digital designers interested in ex- ploring the possibility of designing asynchronous circuits. It requires a solid mathematical background in discrete event systems and algorithms. While the book has not been written as a textbook, nevertheless it could be used as a reference book in an advanced course in logic synthesis or asynchronous design.
Product Identifiers
Publisher
Springer
ISBN-10
0792393643
ISBN-13
9780792393641
eBay Product ID (ePID)
1183588
Product Key Features
Publication Name
Algorithms for Synthesis and Testing of Asynchronous Circuits
Format
Hardcover
Language
English
Series
The Springer International Series in Engineering and Computer Science Ser.
Publication Year
1993
Type
Textbook
Number of Pages
Xix, 339 Pages
Dimensions
Item Length
9.3in
Item Width
6.1in
Item Weight
53.6 Oz
Additional Product Features
Series Volume Number
232
Number of Volumes
1 Vol.
Lc Classification Number
Tk7867-7867.5
Table of Content
1 Introduction.- 1.1 Motivation.- 1.2 Organization.- 2 Overview of The Design Methodology.- 2.1 Signal Transition Graphs.- 2.2 Signal Transition Graph Synthesis.- 2.3 The VMEbus Master Interface Protocol.- 2.4 A Signal Transition Graph Specification for the VMEbus Interface.- 2.5 The Circuit Implementation of the VMEbus Master Interface.- 3 Previous Work.- 3.1 Circuit Model Taxonomy.- 3.2 Definitions.- 3.3 The Huffman Model for Asynchronous Circuits.- 3.4 Micropipelines.- 3.5 Speed-independent Circuits.- 3.6 Delay-insensitive Circuits.- 3.7 Hazard Analysis in Asynchronous Circuits.- 3.8 Conclusion.- 4 The Signal Transition Graph Model.- 4.1 A Low-level Model for Asynchronous Systems.- 4.2 Modeling Asynchronous Logic Circuits.- 4.3 A High-level Behavioral Model for Asynchronous Systems.- 4.4 Classification of Models of Asynchronous Circuits.- 4.5 Signal Transition Graphs and Change Diagrams.- 4.6 Conclusion.- 5 The State Encoding Methodology.- 5.1 Overview of the State Encoding Methodology.- 5.2 From Signal Transition Graphs to Finite State Machines.- 5.3 Constrained Finite State Machine Minimization.- 5.4 State Signal Insertion.- 5.5 Experimental Results.- 6 The Synthesis Methodology.- 6.1 Hazard Analysis and Signal Transition Graphs.- 6.2 Circuit Implementation of the Next State Function.- 6.3 Static Hazard Detection in the Circuit Implementation.- 6.4 Hazard Elimination by Delay Padding.- 6.5 Dynamic Hazard Analysis.- 6.6 Experimental Results.- 7 The Design For Testability Methodology.- 7.1 Definitions and Notation.- 7.2 A Procedure Guaranteed to Generate an HFRPDFT Circuit.- 7.3 Heuristic Procedures to Improve HFRPDFT Testability.- 7.4 A Procedure Guaranteed to Generate an RGDFT Circuit.- 7.5 Design for Delay Testability Methodology.- 7.6 Experimental Results.- 8 Conclusions.- References.
Copyright Date
1993
Topic
Cad-Cam, Electronics / Circuits / General, Electrical, Electronics / Digital
Lccn
93-019510
Dewey Decimal
621.395
Intended Audience
Scholarly & Professional
Dewey Edition
20
Illustrated
Yes
Genre
Computers, Technology & Engineering
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物品所在地：
Fairfield, Ohio, 美國
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